規格型號:S-3400N

技術參數:分辨率3.0nm（30kv）高真空模式，分辨率1.0nm（3kv）高真空模式，BSE分辨率4.0nm（30kv）低真空模式，放大倍率5×~300,000×，加速電壓0.3~30kv，低真空壓強范圍6~270Pa。

功能/用途:利用細聚焦電子束掃描樣品表面，從樣品激發出來的各種物理信號來調制成像，其中二次電子和背散射電子觀察試樣的形貌。掃描電鏡在制漿造紙領域被用來觀察纖維、紙張、無機物的表面形貌分析，也廣泛應用在材料、化工、食品等領域。